工藝過(guò)程成像系統(tǒng) 2D Vision Probe

簡(jiǎn)介：

       工藝過(guò)程成像系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)顆粒的形貌和尺寸大小做實(shí)時(shí)的準(zhǔn)確測(cè)量，進(jìn)而加深對(duì)過(guò)程的了解和實(shí)現(xiàn)過(guò)程的優(yōu)化控制及放大。除了固體結(jié)晶以外，對(duì)其他非固體的領(lǐng)域，例如氣泡、泡沫、乳狀液、液滴、聚合物、流場(chǎng)等刻畫(huà)也具有極其廣泛的應(yīng)用前景。它適用于生產(chǎn)中對(duì)過(guò)程的研究，產(chǎn)品開(kāi)發(fā)及其改進(jìn)。特別適用于監(jiān)測(cè)、 優(yōu)化和控制高顆粒濃度過(guò)程及非透明顆粒的生產(chǎn)過(guò)程。

一、 原理

       工藝過(guò)程成像系統(tǒng)相當(dāng)于一臺(tái)在線顯微鏡?？梢钥焖?，清晰的捕捉到反應(yīng)過(guò)程中顆粒的圖像。在捕獲圖像后，利用本公司開(kāi)發(fā)的專(zhuān)業(yè)軟件對(duì)圖像進(jìn)行分割，使得顆粒與背景分離，通過(guò)統(tǒng)計(jì)像素點(diǎn)的數(shù)量從而得到顆粒的粒徑，面積，周長(zhǎng)，長(zhǎng)徑比，圓度等一系列的參數(shù)。

二、某含能材料的晶型轉(zhuǎn)變實(shí)驗(yàn)（高體積分?jǐn)?shù)樣品測(cè)試）：

過(guò)程成像系統(tǒng)可以很好的幫助研究晶體形貌改變時(shí)，各個(gè)參量的影響。但是過(guò)高的固體顆粒體積分?jǐn)?shù)是對(duì)過(guò)程成像系統(tǒng)的一個(gè)挑戰(zhàn)。下面實(shí)例介紹過(guò)程成像系統(tǒng)應(yīng)用與某含能材料的晶型轉(zhuǎn)變。

下圖：1.  材料剛放入A溶液中，正在逐步溶解

         2.材料已完全溶解

         3.放入反溶劑后大量晶體析出：從圖中可以看出有許多細(xì)小的顆粒將光線遮蔽，但是還是可以發(fā)現(xiàn)一些較大的晶體

         4.小顆粒逐漸消失，不同形貌的顆粒形成

總體而言，工藝過(guò)程成像系統(tǒng)可以幫助客戶(hù)很好的了解在結(jié)晶過(guò)程中的晶體隨外加條件的變化， 在高體積分?jǐn)?shù)時(shí)也能勝任。